Thiết bị tự động kiểm tra các mẫu khuyết tật thường xuyên hoặc không đều được xác nhận trực quan.

Mặt nạ kim loại (FMM, OMM) có thể được kiểm tra bằng cách sử dụng màn hình OLED.

Feature

• 1. Chụp ảnh mặt nạ tối ưu bằng cách vận hành linh hoạt bố cục chụp có tính đến độ phản xạ bề mặt khác nhau của mặt nạ kim loại

• 2. Tạo hai loại hiệu ứng ánh sáng: Trường sáng / Trường tối với một Đèn đường trắng 1200mm.

• 3. Chức năng kiểm tra mẫu bất thường bằng phương pháp học tự động mặt nạ thông thường

• 4. Chức năng kiểm tra trực tiếp bằng phương pháp lọc ngưỡng

• 5. Kiểm tra không đồng bộ với chức năng chụp và kiểm tra riêng biệt, chức năng kiểm tra đặt chỗ lên tới 100 tờ

• 6. Hiệu suất kiểm tra nhanh cho phép kiểm tra tất cả các khẩu trang đang được thực hiện